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扫描链Scan Chain是一种数字集成电路IC测试技术触发器的测试类的测试覆盖率始终显示为53开发者社，属于设计可测试性Design for Testability， DFT范畴目的是简化数字逻辑电路测试，让测试人员容易访问和控制芯片内部触发器FlipFlops在复杂电路中，成千上万个触发器深入嵌套，直接测试状态困难扫描链通过连接触发器形成可访问链解决此问。

扫描链测试是DFT可测试性设计中的一种核心技术，它通过将设计中的触发器串连成链，采用统一的扫描时钟驱动，将预先设计好的扫描模式送入芯片，实现对芯片的高效检测这一步骤是结构性测试的主要手段，依赖于电路的可测性，即可观测点和可控制点扫描链测试的基本原理在于将芯片设计中的所有触发器连接成。

DFT是Design For Tesability可测试性设计的简称是设计人员在进行系统和电路设计的同时，考虑测试的需求，通过在芯片中增加一些测试电路从而简化测试过程 是一种为达到故障检测目的所进行的辅助性设计方法，使制作完成后的芯片能达到“可控制性”和“可测试性”两个目的较流行的DFT设计方法包括内部。

熟悉掌握SQL与Access数据库，了解视图存储过程触发器表链接事务的创建及工作原理，主键与外键的关系，对MySQLOracle数据库有一定的了解熟悉白盒测试，能利用各种覆盖率技术，如语句覆盖判定覆盖条件覆盖判定条件覆盖条件组合覆盖路径覆盖，设计测试用例并实施测试，对代码检查工具。

扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器FlipFlop，简称FF的时序电路网络的反馈Scan 包括两个步骤，scan replacement和scan stitching，目的是把一个不容易测试的时序电路变成容易测试的组合电路2内建自测试 Bist内建自测试BIST。

软件测试定义软件测试就是在软件投入运行前对软件需求分析软件设计规格说明和软件编码进行的查错包括代码执行活动与人工活动软件测试是为了发现错误而执行程序的过程软件测试是根据软件开发各阶段的规格说明和程序的内部结构而精心设计一批测试用例即输入数据及其预期的输出结果，并利用这些测试用例去运行程序，以。

AI艺术产品开发者 莫斯塔克触发器的测试类的测试覆盖率始终显示为53开发者社我认为这是自互联网出现以来，我们 宣布正在测试一款名为Sora的“文本生成视频”模型，可根据输入。

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